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EMI測試
近場探頭 EM5030
EM5030 是一款主要用于查找干擾源，判定干擾產(chǎn)生原因的高性價(jià)比近場探頭。可用來檢測器件表面的磁場方向以及強(qiáng)度；檢測磁場耦合的通道，從而調(diào)整連接器位置；檢測模塊附近的磁場環(huán)境。為了降低干擾，尋找到真正的干擾源或者是其傳播的途徑是非常有必要的，通過近場探頭測量可以很方便地實(shí)現(xiàn)定位功能。通過配合本公司的EM5020前置放大器可以提高系統(tǒng)測試靈敏度。大大的減少產(chǎn)品的研發(fā)周期，減少往返實(shí)驗(yàn)室的時(shí)間和金錢，減少不必要的錯(cuò)誤測試。 EM5030近場探頭就是解決問題的最好利器！
型號 | 說明 | 特性 |
EM5030－1
| 磁場近場探頭，可檢查10cm范圍內(nèi)的磁場。
主要用于機(jī)箱泄漏測試。
頻率范圍：30MHz to 3 GHz
分辨率：25mm左右 | 
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EM5030－2
| 磁場近場探頭，可檢查3cm范圍內(nèi)的磁場。
頻率范圍：30MHz to 3 GHz
分辨率：10mm左右 | 
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EM5030－3
| 磁場近場探頭，主要用于線纜電磁泄漏測試。
頻率范圍：30MHz to 2 GHz
分辨率：5mm左右 | 
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EM5030－4
| 磁場近場探頭，可檢測垂直方向發(fā)射的電磁場 。
主要用于PCB布線產(chǎn)生的電磁場測試。
頻率范圍：30MHz to 3 GHz
分辨率：2mm左右 | 
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